芯片可靠性测试项目评估是确保芯片在各种操作条件下稳定工作的关键环节。以下是一些常见的可靠性测试方法和项目：

　　·方法：将芯片在高温和低温之间循环变化，通常在-40°C到125°C之间，测试其在极端温度下的性能和稳定性。