您当前所在位置:首页 > 新闻中心 willhill中国
willhill中国·HCWP-1000-高温介电温谱测试系统发布时间:2024-05-19 04:05:47 来源:williamhill中国官网 作者:williamhill威廉希尔官网     

  Labview系统开发的Huacepro软件,具备弹性的自定义功能,可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置,符合压电陶瓷与新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全;资料保存机制,当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于中,不丢失试验数据,设备重新启动后可恢复原有试验数据。

  高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统,增设气体冷却装置,可实现快速冷却。

  近红外镀金聚焦炉和温度的组合使用,可以准确控制样品的温度。此外,冷却速度和保持在任何温度下可提供高的精度。

  加热/冷却可用真空、气氛环境、低温(高纯度惰性气体 静态或流动),操作简单,使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。

  ε介电常数、(ε、ε介电常数实部与虚部)、C电容、(C’、C电容实部与虚部、D损耗、R电阻、(R、R电阻实部与虚部)、Z、(Z、Z阻抗实部与虚部)、Y导纳、Y’、Y(导纳实部与虚部)、X电抗、Q品质因数、cole-cole图谱、机电耦合系数Kp、等一系列测量参数及介电温谱与频谱等测试功能。

  测试系统的软件平台Huacepro ,采用labview系统开发,符合功能材料的各项测试需求,具备稳定性与操作安全性,并具备断电资料的保存功能,图像资料也可保存恢复。兼容XP、win7、win10系统。

  测量参数:ε介电常数、(ε、ε介电常数实部与虚部)、C电容、(C’、C电容实部与虚部、D损耗、阻、(R、R电阻实部与虚部)、Z、(Z、Z阻抗实部与虚部)、Y导纳、Y’、Y(导纳实部与虚部)、X电抗、Q品质因数、cole-cole图谱、机电耦合系数Kp、等;

  以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,智能制造网对此不承担任何保证责任。


willhill中国
上一篇:英搏尔取得EMC测试系统专利使得测试系统不仅精 下一篇:什么是集成电路?