世界已进入信息时代，人们在利用信息的过程中，精密测试测量技术得到了越来越多的研究和重视，而光电测试测量技术作为现代精密测量的核心技术也发挥着越来越重要的作用。而传感器微型化、纳米技术的发展也对现代精密测量技术提出了越来越高的要求。在此大背景下，中国光学工程学会联合各单位组织召开此次大会，旨在对光电测试测量技术及产业发展中的热点议题和痛点难题开展深入交流，共同促进光电测试测量领域理论创新、关键技术攻关、核心基础设备研发、测试标准制定和应用领域拓展，建立以高校、科研院所及重点实验室引领的光电测试测量创新技术生态链，为工业、科技和民用等应用领域提供高性能高可靠光电测试测量装备，逐步实现高端测试测量设备的国产化献计献策。

　　《红外与毫米波学报》（SCI）、《红外与激光工程》（EI）、《光学精密工程》（EI）、《光子学报》（EI）、《中国光学》（EI）、《应用光学》（中文核心）、《中国测试》（中文核心）、《光学与光电技术》（中国科技核心）、《宇航计测技术》（中国科技核心）、《量子电子学报》（中文核心）、《大气与环境光学学报》（CSCD）、SPIE会议论文集 (EI)